| Microscopio de Barrido por Sonda Local (SPM Aire) |
Nanotec Electrónica S.L. |
Cervantes - Dulcinea (2013) |
Importado, España |
2013 |
Link del Equipamiento
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| Microscopio de captura láser (LCM) |
MDS Analytical Technologies |
Arcturus XT |
Importado. Estados Unidos |
2009 |
Link del Equipamiento
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| Microscopio de túnel de barrido (STM) y de fuerza atómica (AFM) |
Agilent |
5400 |
Importado, Estados Unidos |
2010 |
Link del Equipamiento
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| Microscopio Electrónico de barrido |
FEI |
FEG Quanta 200 |
Paises Bajos |
2010 |
Link del Equipamiento
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| Microscopio Electronico de Barrido |
Leitz |
AMR 1000 |
DONACIÓN instituto CYT de Alemania |
Llegó al instituto en el año 1995 |
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| Microscopio electrónico de Barrido (SEM) + Detector de energía dispersiva de rayos X. |
Philips + EDAX |
SEM 505 + PV 9760 |
Importada, Holanda |
1982 |
Link del Equipamiento
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| Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada con analizador de Rayos X EDS |
PhenomWorld |
PRO X |
Importado, Holanda |
2015 |
Link del Equipamiento
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| Microscopio Electrónico de Transmisión de alta resolución (HR-TEM) con análisis EDS |
JEOL |
JEM 2100 plus con EDS Oxford X-Max |
2016 |
Importado de Japón y Estados Unidos |
Link del Equipamiento
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| Microscopio estereoscópico (lupa binocular) |
Olympus |
MVX10 |
Importada - Japón |
2010 |
Link del Equipamiento
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| Microscopio estereoscópico de fluorescecncia |
Leica |
MZ16F |
Importada - Alemania |
2007 |
Link del Equipamiento
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